一种有效的低功耗扫描测试结构——PowerCut
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李晓维; 王 伟; 韩银和; 胡 瑜; 张佑生 |
| 刊名 | 计算机研究与发展
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| 出版日期 | 2007 |
| 期号 | 第3期页码:473～478页 |
| 关键词 | 测试功耗 阻隔逻辑 控制单元 扫描链 |
| 英文摘要 | 扫描测试是超大规模集成电路测试中最常用的一种技术.但在扫描测试过程中，扫描单元的频繁翻转会引起电路中过大的测试功耗，这对电路测试提出了新的挑战.提出了一种新颖的低功耗全扫描结构——PowerCut，通过对扫描链的修改，加入阻隔逻辑，有效降低扫描移位过程中的动态功耗，同时加入控制单元，使电路在扫描移位过程时进入低漏电流状态，降低了电路的静态功耗.实验表明该结构在较小的硬件开销范围内有效地减小了扫描测试功耗. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-13 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/611]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2007年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晓维,王 伟,韩银和,等. 一种有效的低功耗扫描测试结构——PowerCut[J]. 计算机研究与发展,2007(第3期):473～478页. |
| APA | 李晓维,王 伟,韩银和,胡 瑜,&张佑生.(2007).一种有效的低功耗扫描测试结构——PowerCut.计算机研究与发展(第3期),473～478页. |
| MLA | 李晓维,et al."一种有效的低功耗扫描测试结构——PowerCut".计算机研究与发展 .第3期(2007):473～478页. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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