用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 荀庆来; 邝继顺; 闵应骅 |
| 刊名 | 计算机研究与发展
 |
| 出版日期 | 2007 |
| 期号 | 第3期页码:479～486页 |
| 关键词 | 全速电流测试 瞬态电流测试 微处理器测试 指令序列 |
| 英文摘要 | 全速电流测试是一种新的电路测试方法，现以AT89C51微处理器为例，说明用全速电流测试进行微处理器测试的可能性.在实验中，让微处理器重复执行选定的指令序列，以普通的万用数字电流表测量微处理器消耗的平均电流，并给出了指令序列的产生方法.实验结果表明，用全速电流测试在指令级对AT89C51微处理器进行测试是可行的.通过测试所有的数据通路，不但可以检测数据通路的故障，而且可以检测由于控制错误而引起的数据传送错误. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-13 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/612]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2007年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 荀庆来,邝继顺,闵应骅. 用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究[J]. 计算机研究与发展,2007(第3期):479～486页. |
| APA | 荀庆来,邝继顺,&闵应骅.(2007).用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究.计算机研究与发展(第3期),479～486页. |
| MLA | 荀庆来,et al."用全速电流测试检测AT89C51微处理器的实验研究".计算机研究与发展 .第3期(2007):479～486页. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。