嵌入式处理器在片调试功能的验证
文献类型：期刊论文
| 作者 | 许彤; 王朋宇; 黄海林; 范东睿; 朱鹏飞; 郑保建; 曹非 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
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| 出版日期 | 2007 |
| 卷号 | 19期号:4 |
| 关键词 | 在片调试 覆盖率模型 虚拟验证原型 定向功能测试 随机测试 龙芯1号处理器 |
| 英文摘要 | 下载PDF阅读器以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了基于JTAG的处理器在片调试功能的验证方法.根据在片调试的结构特征建立了功能覆盖率模型,并以访存模式为基准分步建立虚拟验证原型.整个验证将定向功能测试和指令集随机测试有机地结合起来,迅速定位了设计中多个难以发现的错误.最终验证的功能覆盖率达到100%,FPGA原型经长时间运行无误. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-22 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/887]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2007年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 许彤,王朋宇,黄海林,等. 嵌入式处理器在片调试功能的验证[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2007,19(4). |
| APA | 许彤.,王朋宇.,黄海林.,范东睿.,朱鹏飞.,...&曹非.(2007).嵌入式处理器在片调试功能的验证.计算机辅助设计与图形学学报,19(4). |
| MLA | 许彤,et al."嵌入式处理器在片调试功能的验证".计算机辅助设计与图形学学报 19.4(2007). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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