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龙芯1号处理器的故障注入方法与软错误敏感性分析

文献类型:期刊论文

作者许 彤; 唐志敏; 黄海林
刊名计算机研究与发展
出版日期2006
期号第10期页码:1820~1827页
关键词容错处理器 可靠性设计 故障注入 软错误
英文摘要在纳米级制造工艺下以及在航天等特殊应用场合中,可靠性将是处理器设计中的一个重要考虑因素.以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了处理器可靠性设计中的故障注入方法,并提出了一种同时运行两个处理器RTL模型的故障注入与分析方法,可以实现连续快速的处理器仿真故障注入.在此基础上,进一步分析了龙芯1号处理器的软错误敏感性,通过快速注入大约30万个软错误,保证了分析结果具有较好的统计意义,可以有效指导后续的容错与可靠性设计.
语种中文
公开日期2010-10-15
源URL[http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/692]  
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_2006年中文
推荐引用方式
GB/T 7714
许 彤,唐志敏,黄海林. 龙芯1号处理器的故障注入方法与软错误敏感性分析[J]. 计算机研究与发展,2006(第10期):1820~1827页.
APA 许 彤,唐志敏,&黄海林.(2006).龙芯1号处理器的故障注入方法与软错误敏感性分析.计算机研究与发展(第10期),1820~1827页.
MLA 许 彤,et al."龙芯1号处理器的故障注入方法与软错误敏感性分析".计算机研究与发展 .第10期(2006):1820~1827页.

入库方式: OAI收割

来源:计算技术研究所

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