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嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现

文献类型:期刊论文

作者许彤; 黄海林; 范东睿; 朱鹏飞; 郑保建; 曹非; 陈亮
刊名计算机辅助设计与图形学学报
出版日期2006
卷号18期号:7
关键词在片调试 Ieee P1149.1 Jtag 龙芯1号处理器
英文摘要以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了嵌入式处理器中在片调试功能的设计实现方法.通过扩充IEEEP1149.1协议的JTAG测试访问端口(TAP),并在处理器内部增加控制模块,实现了软件调试断点、调试中断、硬件断点以及单步执行等多种在片调试功能.调试主机只需要通过一根JTAG调试电缆就可以访问目标处理器内部寄存器等各种资源,并控制目标处理器的运行过程,实现了处理器的在片调试功能,大大地方便了软件开发与系统调试.
语种中文
公开日期2010-11-22
源URL[http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/901]  
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_2006年中文
推荐引用方式
GB/T 7714
许彤,黄海林,范东睿,等. 嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2006,18(7).
APA 许彤.,黄海林.,范东睿.,朱鹏飞.,郑保建.,...&陈亮.(2006).嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现.计算机辅助设计与图形学学报,18(7).
MLA 许彤,et al."嵌入式处理器在片调试功能的设计与实现".计算机辅助设计与图形学学报 18.7(2006).

入库方式: OAI收割

来源:计算技术研究所

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