SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王伟; 李佳; 胡瑜; 李晓维 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
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| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 18期号:9 |
| 关键词 | 可测试性设计 动态功耗 扫描链 |
| 英文摘要 | 通过调整扫描链上扫描单元顺序与逻辑门插入相结合,以减少扫描移入阶段扫描链上不必要的状态跳变,从而达到降低测试中电路动态功耗的目的.在ISCAS'89基准电路上进行的实验表明,该方法最多能将扫描移入阶段峰值功耗降低94.5%,平均功耗降低93.8%,而面积开销可以忽略不计. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-22 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/906]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2006年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王伟,李佳,胡瑜,等. SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2006,18(9). |
| APA | 王伟,李佳,胡瑜,&李晓维.(2006).SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法.计算机辅助设计与图形学学报,18(9). |
| MLA | 王伟,et al."SCANGIN:一种降低扫描测试中动态功耗的方法".计算机辅助设计与图形学学报 18.9(2006). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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