时序电路状态覆盖向量的遗传方法筛选
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李晓维; 杨修涛; 鲁巍 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
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| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 18期号:2 |
| 关键词 | 静态状态转换 动态状态转换 遗传算法 测试向量生成 |
| 英文摘要 | 传统的状态覆盖方法对电路的数据单元测试不足,而随机测试方法又具有盲目性 .在综合2种方法的基础上,给出一种以状态与状态转换覆盖率为评估、以遗传筛选为工具对生成的测试向量进行择优选择的方法.为了指导测试生成,给出了动态状态转换与静态状态转换概念.同时,基于该方法给出一个测试生成工具GRTT. 最后,将文中方法实验于ITC99-benchmark电路,并将实验结果与测试生成系统X-Pulling的结果进行比较. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/916]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2006年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晓维,杨修涛,鲁巍. 时序电路状态覆盖向量的遗传方法筛选[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2006,18(2). |
| APA | 李晓维,杨修涛,&鲁巍.(2006).时序电路状态覆盖向量的遗传方法筛选.计算机辅助设计与图形学学报,18(2). |
| MLA | 李晓维,et al."时序电路状态覆盖向量的遗传方法筛选".计算机辅助设计与图形学学报 18.2(2006). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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