适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李晓维; 李华伟; 韩银和 |
| 刊名 | 计算机研究与发展
 |
| 出版日期 | 2005 |
| 期号 | 第7期页码:1277~1282页 |
| 关键词 | 错误位抵消 未知位屏蔽 异或网络 多输入移位寄存器 |
| 英文摘要 | 测试向量响应压缩电路分为组合压缩电路和时序压缩电路两种.提出一种新的时序压缩电路：锥-压缩器.由于该电路是单输出的，所以总能保证最大压缩率.根据扫描测试中故障出现的特点，通过引入等价概念和两条设计规则来保证该响应压缩电路能够避免2，3和任何奇数个错误位抵消的情况.这两条设计规则同样适用于处理测试响应中出现未知位的情况.提出的基于随机选取生成算法可以自动生成该压缩电路.最后用实验数据从性能和代价两方面分析了锥-压缩器的适用性. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-15 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/650]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2005年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晓维,李华伟,韩银和. 适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计[J]. 计算机研究与发展,2005(第7期):1277~1282页. |
| APA | 李晓维,李华伟,&韩银和.(2005).适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计.计算机研究与发展(第7期),1277~1282页. |
| MLA | 李晓维,et al."适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计".计算机研究与发展 .第7期(2005):1277~1282页. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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