基于双核扫描链平衡的SoC测试调度
文献类型：期刊论文
| 作者 | 韩银和; 李晓维; 李华伟; 胡瑜; 吕涛 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
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| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 17期号:10 |
| 关键词 | 测试调度 扫描链平衡 系统芯片 粒子群优化算法 |
| 英文摘要 | 由于芯核的测试时间与芯核内最长扫描链的长度成正比,通过将SoC中的芯核进行成对匹配,使双芯核内最长的扫描链比两个单芯核内最长的扫描链短,从而缩短测试时间.利用粒子群优化算法和分合策略,高效地匹配芯核、设置芯核的测试顺序并分配测试总线,以获得优化的测试计划.在ITC'02基准SoC集上的实验结果表明,相对于其他基于单核扫描链平衡的测试调度技术而言,文中的测试调度技术能获得具有最短测试时间的测试计划. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/936]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2005年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 韩银和,李晓维,李华伟,等. 基于双核扫描链平衡的SoC测试调度[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2005,17(10). |
| APA | 韩银和,李晓维,李华伟,胡瑜,&吕涛.(2005).基于双核扫描链平衡的SoC测试调度.计算机辅助设计与图形学学报,17(10). |
| MLA | 韩银和,et al."基于双核扫描链平衡的SoC测试调度".计算机辅助设计与图形学学报 17.10(2005). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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