拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测
文献类型：期刊论文
| 作者 | 崔丽; 向世明; 赵国英; 李华; 陈睿 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
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| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 17期号:5 |
| 关键词 | 纹理探测 拓扑图格独立分量分析 谱聚类 分离基 最大响应准则 滤波器通道 |
| 英文摘要 | 提出的纹理探测方法首先采用拓扑图格独立分量分析(TICA)分别对每个观测纹理进行学习,获得分离基.分离基的作用相当于滤波器,并通过最大响应准则得到选择.从不同纹理选择的滤波器构成一个滤波器集;为了计算探测点的纹理特征,测试图像被分解为滤波器通道.最后,探测点被视为谱图的顶点,根据谱聚类(SC)对谱图的切分结果,递归地分离出探测点.实验结果表明,这一方法行之有效. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/941]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2005年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔丽,向世明,赵国英,等. 拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2005,17(5). |
| APA | 崔丽,向世明,赵国英,李华,&陈睿.(2005).拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测.计算机辅助设计与图形学学报,17(5). |
| MLA | 崔丽,et al."拓扑图格独立分量分析和谱聚类支持的纹理探测".计算机辅助设计与图形学学报 17.5(2005). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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