芯片验证分析及测试流程优化技术
文献类型：期刊论文
| 作者 | 林建京; 韩银和; 李晓维; 朱小荣; 罗飞茵; 陈宇川 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
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| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 17期号:10 |
| 关键词 | 失效分析 实速测试 动态规划算法 启发式搜索算法 |
| 英文摘要 | 分析了不同测试项目对于一款采用0.18μm工艺流片的高性能通用处理器芯片失效的发现能力.以失效分析的数据作为基本数据结构,提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发式信息的优化算法,利用该算法生成的测试流程可以减少失效芯片的测试时间.该算法和动态规划算法相比,计算复杂度从O(dn2n)降低到O(dn3).最后用实验数据证明了该算法的有效性. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-23 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/949]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2005年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 林建京,韩银和,李晓维,等. 芯片验证分析及测试流程优化技术[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2005,17(10). |
| APA | 林建京,韩银和,李晓维,朱小荣,罗飞茵,&陈宇川.(2005).芯片验证分析及测试流程优化技术.计算机辅助设计与图形学学报,17(10). |
| MLA | 林建京,et al."芯片验证分析及测试流程优化技术".计算机辅助设计与图形学学报 17.10(2005). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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