寄存器传输级测试用例生成算法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 沈理; 高燕 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
 |
| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 17期号:9 |
| 关键词 | 集成电路 自动测试生成 寄存器传输级 测试用例 |
| 英文摘要 | 基于控制流图/数据流图层次模型,以分支覆盖、位功能覆盖以及语句可观测覆盖为目标,给出一个高层次测试用例生成算法,并最终实现一种可行的RTL级测试生成算法.实验结果表明,在较少的测试生成时间下,该算法可生成相对短的测试序列,得到与其他方法相当或略差的测试效果.此外,该算法因采用了测试用例技术而具有良好的灵活性. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-24 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/953]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2005年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 沈理,高燕. 寄存器传输级测试用例生成算法[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2005,17(9). |
| APA | 沈理,&高燕.(2005).寄存器传输级测试用例生成算法.计算机辅助设计与图形学学报,17(9). |
| MLA | 沈理,et al."寄存器传输级测试用例生成算法".计算机辅助设计与图形学学报 17.9(2005). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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