数字电路测试压缩方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李晓维; 李华伟; 王伟; 董婕; 韩银和; 胡瑜 |
| 刊名 | 信息技术快报
 |
| 出版日期 | 2006-01-16 |
| 卷号 | 4期号:1页码:29 |
| 英文摘要 | 本文介绍面向数字电路的测试压缩方法。测试向量分为测试激励向量和测试响应向量，因此测试压缩也分为测试激励压缩和测试响应压缩。本文对这两个方面分别进行了介绍，最后还介绍了多种主流测试压缩工具。 |
| 学科主题 | 计算机系统结构 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-02-02 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/109]  |
| 专题 | 信息技术快报_2006 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晓维,李华伟,王伟,等. 数字电路测试压缩方法[J]. 信息技术快报,2006,4(1):29. |
| APA | 李晓维,李华伟,王伟,董婕,韩银和,&胡瑜.(2006).数字电路测试压缩方法.信息技术快报,4(1),29. |
| MLA | 李晓维,et al."数字电路测试压缩方法".信息技术快报 4.1(2006):29. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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