VLSI 测试综述
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李华伟 |
| 刊名 | 信息技术快报
 |
| 出版日期 | 2003-10-06 |
| 卷号 | 1期号:5页码:18 |
| 英文摘要 | 本文在综述基本的VLSI测试方法和可测试性设计技术的基础上，对基于核的片上系统的可测试性设计和测试方法进行简单介绍。最后，通过分析集成电路设计和制造工艺的发展给测试带来的影响，展望VLSI/SOC测试技术的发展方向。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-03-30 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/250]  |
| 专题 | 信息技术快报_2003 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李华伟. VLSI 测试综述[J]. 信息技术快报,2003,1(5):18. |
| APA | 李华伟.(2003).VLSI 测试综述.信息技术快报,1(5),18. |
| MLA | 李华伟."VLSI 测试综述".信息技术快报 1.5(2003):18. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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