芯片验证测试及失效分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 韩银和; 檀彦卓; 李晓维 |
| 刊名 | 信息技术快报
 |
| 出版日期 | 2004-09-06 |
| 卷号 | 2期号:9页码:31 |
| 英文摘要 | 本文对验证测试与失效分析技术进行了系统介绍，包括验证测试的一般流程、常用的分析方法以及基于验证测试的失效分析。通过分析集成电路设计和制造工艺的发展给测试带来的影响，简要介绍了验证测试面临的挑战以及未来关注的若干问题。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-03-30 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/223]  |
| 专题 | 信息技术快报_2004 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 韩银和,檀彦卓,李晓维. 芯片验证测试及失效分析[J]. 信息技术快报,2004,2(9):31. |
| APA | 韩银和,檀彦卓,&李晓维.(2004).芯片验证测试及失效分析.信息技术快报,2(9),31. |
| MLA | 韩银和,et al."芯片验证测试及失效分析".信息技术快报 2.9(2004):31. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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