芯片设计的模拟验证技术分析和探讨
文献类型：期刊论文
| 作者 | 吕涛; 李华伟; 李晓维 |
| 刊名 | 信息技术快报
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| 出版日期 | 2010-03-26 |
| 卷号 | 8期号:2页码:36 |
| 关键词 | 芯片设计 模拟验证 错误模型 错误注入 可验证性 |
| 英文摘要 | 本文通过分析模拟验证技术随着设计规模发展而遇到的困境及其原因，认为基于错误模型的设计验证是有望取得突破性进展的技术方向。本文进而从三方面综合介绍了基于错误模型的设计验证技术的研究现状，以及我们在这方面开展的部分工作。本文首先阐述了设计错误模型的研究现状，重点介绍了差异测试的思想以及缺项错误模型及其测试方法；其次介绍了错误注入系统ErrorInjector，该系统能够支持种类丰富的设计错误模型，而且具有良好的可扩展接口，是一个对于设计错误模型研究非常有益的基础平台；最后介绍了基于错误屏蔽概率的静态可观测性量化分析方法，以及在此基础上的根据低观测根源选择内部观测点的方法，为从设计错误所引发的效果角度研究可验证性设计技术提供了一个实例。 |
| 学科主题 | 计算机系统结构 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-03-30 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/187]  |
| 专题 | 信息技术快报_2010 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 吕涛,李华伟,李晓维. 芯片设计的模拟验证技术分析和探讨[J]. 信息技术快报,2010,8(2):36. |
| APA | 吕涛,李华伟,&李晓维.(2010).芯片设计的模拟验证技术分析和探讨.信息技术快报,8(2),36. |
| MLA | 吕涛,et al."芯片设计的模拟验证技术分析和探讨".信息技术快报 8.2(2010):36. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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