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用KrF准分子激光移相光刻研制深亚微米栅长InP/In0.75Ga0.25As/InP HEMT

文献类型:期刊论文

作者钱鹤; 刘训春
刊名半导体技术
出版日期1997
期号6页码:4,47-50
关键词Hemt器件 移相光刻 准分子激光 深亚微米栅
ISSN号1003-353X
产权排序1
英文摘要设计了一种新的InP/In0.75Ga0.25As/InP器件结构,其特点在于采用InP衬底,高X值的InxgA1-xAs沟道,选用InP作为势垒层,从而避免了用含Al势垒层有可能引起的DX中心对器件性能的不利影响。在器件工艺实验方面,提出将KrF准分子激光无铬移相光刻应用于栅图形加工,设计,组装了一套实验系统,可重复可靠地得到剖面陡直的0.3-0.35μm胶阴线条,这一工艺技术完全与现有器件工艺
语种中文
公开日期2010-05-25
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/554]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
推荐引用方式
GB/T 7714
钱鹤,刘训春. 用KrF准分子激光移相光刻研制深亚微米栅长InP/In0.75Ga0.25As/InP HEMT[J]. 半导体技术,1997(6):4,47-50.
APA 钱鹤,&刘训春.(1997).用KrF准分子激光移相光刻研制深亚微米栅长InP/In0.75Ga0.25As/InP HEMT.半导体技术(6),4,47-50.
MLA 钱鹤,et al."用KrF准分子激光移相光刻研制深亚微米栅长InP/In0.75Ga0.25As/InP HEMT".半导体技术 .6(1997):4,47-50.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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