用KrF准分子激光移相光刻研制深亚微米栅长InP/In0.75Ga0.25As/InP HEMT
文献类型:期刊论文
作者 | 钱鹤; 刘训春 |
刊名 | 半导体技术
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出版日期 | 1997 |
期号 | 6页码:4,47-50 |
关键词 | Hemt器件 移相光刻 准分子激光 深亚微米栅 |
ISSN号 | 1003-353X |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 设计了一种新的InP/In0.75Ga0.25As/InP器件结构,其特点在于采用InP衬底,高X值的InxgA1-xAs沟道,选用InP作为势垒层,从而避免了用含Al势垒层有可能引起的DX中心对器件性能的不利影响。在器件工艺实验方面,提出将KrF准分子激光无铬移相光刻应用于栅图形加工,设计,组装了一套实验系统,可重复可靠地得到剖面陡直的0.3-0.35μm胶阴线条,这一工艺技术完全与现有器件工艺 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-25 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/554] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 钱鹤,刘训春. 用KrF准分子激光移相光刻研制深亚微米栅长InP/In0.75Ga0.25As/InP HEMT[J]. 半导体技术,1997(6):4,47-50. |
APA | 钱鹤,&刘训春.(1997).用KrF准分子激光移相光刻研制深亚微米栅长InP/In0.75Ga0.25As/InP HEMT.半导体技术(6),4,47-50. |
MLA | 钱鹤,et al."用KrF准分子激光移相光刻研制深亚微米栅长InP/In0.75Ga0.25As/InP HEMT".半导体技术 .6(1997):4,47-50. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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