深亚微米光学光刻工艺技术
文献类型:期刊论文
作者 | 谢常青![]() |
刊名 | 电子工业专用设备
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出版日期 | 2000 |
卷号 | 29期号:3页码:5,8-12 |
关键词 | 移相掩模 集成电路 光学光刻 深亚微米 |
ISSN号 | 1004-4507 |
英文摘要 | 光学光刻的生命力仍然在不断延续,即使在0.13μm及0.13μm以下集成电路制造水平上,光学光刻仍然是一个非常重要的修选者,深亚微米不迩光刻工艺技术目前面临着越来越严重的挑战。对深亚微米光学光刻中的一些关键工艺技术如移相光刻光学邻近效应较正,远紫外光刻胶、套郑刻对准误差等进行了论述。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-25 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/624] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 谢常青. 深亚微米光学光刻工艺技术[J]. 电子工业专用设备,2000,29(3):5,8-12. |
APA | 谢常青.(2000).深亚微米光学光刻工艺技术.电子工业专用设备,29(3),5,8-12. |
MLA | 谢常青."深亚微米光学光刻工艺技术".电子工业专用设备 29.3(2000):5,8-12. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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