极端远紫外光刻技术
文献类型:期刊论文
作者 | 谢常青![]() ![]() |
刊名 | 半导体情报
![]() |
出版日期 | 2001 |
卷号 | 38期号:5页码:5,28-32 |
关键词 | 极端远紫外线光刻 半导体工艺 集成电路 |
ISSN号 | 1001-5507 |
英文摘要 | 半导体器件与集成电路的不断小型化要求特征尺寸越来越小,极端远紫外光刻是5种下一代光刻技术候选者之一,它的目标是瞄准70纳米及70纳米以下的特征尺寸光刻。本文从极端远紫外光源、极端远紫外光学系统、反射掩模、光刻胶、光刻机等方面对极端远紫外光刻技术进行了分析论述,并且对它的应用前景进行了简要分析。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-25 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/652] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 谢常青,叶甜春. 极端远紫外光刻技术[J]. 半导体情报,2001,38(5):5,28-32. |
APA | 谢常青,&叶甜春.(2001).极端远紫外光刻技术.半导体情报,38(5),5,28-32. |
MLA | 谢常青,et al."极端远紫外光刻技术".半导体情报 38.5(2001):5,28-32. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。