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极端远紫外光刻技术

文献类型:期刊论文

作者谢常青; 叶甜春
刊名半导体情报
出版日期2001
卷号38期号:5页码:5,28-32
关键词极端远紫外线光刻 半导体工艺 集成电路
ISSN号1001-5507
英文摘要

半导体器件与集成电路的不断小型化要求特征尺寸越来越小,极端远紫外光刻是5种下一代光刻技术候选者之一,它的目标是瞄准70纳米及70纳米以下的特征尺寸光刻。本文从极端远紫外光源、极端远紫外光学系统、反射掩模、光刻胶、光刻机等方面对极端远紫外光刻技术进行了分析论述,并且对它的应用前景进行了简要分析。

语种中文
公开日期2010-05-25
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/652]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
谢常青,叶甜春. 极端远紫外光刻技术[J]. 半导体情报,2001,38(5):5,28-32.
APA 谢常青,&叶甜春.(2001).极端远紫外光刻技术.半导体情报,38(5),5,28-32.
MLA 谢常青,et al."极端远紫外光刻技术".半导体情报 38.5(2001):5,28-32.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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