边界扫描测试技术
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王孜; 刘洪民 |
| 刊名 | 半导体技术
 |
| 出版日期 | 2002 |
| 卷号 | 27期号:9页码:5,17_20,29 |
| 关键词 | 边界扫描 |
| ISSN号 | 1003-353X |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 边界扫描技术是一种标准化的可测试性设计方法，它提供了对电路板上元件的功能，互连及相互间影响进行测试的一种新方案，极大地方便了系统电路的测试，介绍了边界扫描技术的原理，结构，讨论了边界扫描技术的应用。 |
| 公开日期 | 2010-05-25 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/742]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王孜,刘洪民. 边界扫描测试技术[J]. 半导体技术,2002,27(9):5,17_20,29. |
| APA | 王孜,&刘洪民.(2002).边界扫描测试技术.半导体技术,27(9),5,17_20,29. |
| MLA | 王孜,et al."边界扫描测试技术".半导体技术 27.9(2002):5,17_20,29. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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