基于计数器实现的加法器自测试
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李兆麟; 田泽; 于敦山; 盛世敏 |
| 刊名 | 微电子学
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| 出版日期 | 2003 |
| 卷号 | 33期号:1页码:3，60-62 |
| 关键词 | 计数器 测试 测试复用 集成电路 行波进位加法器 先行进位加法器 |
| ISSN号 | 1004-3365 |
| 英文摘要 | 文章研究了行波进位加法器和先行进位加法器的测试向量生成，并基于计数器实现了这两种加法器的自测试。实验结果表明，所得的测试向量针对不同的目标工艺均可以实现被测加法器的100％故障覆盖率，且测试向量生成电路易扩展，能够实现测试复用。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-05-25 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/808]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李兆麟,田泽,于敦山,等. 基于计数器实现的加法器自测试[J]. 微电子学,2003,33(1):3，60-62. |
| APA | 李兆麟,田泽,于敦山,&盛世敏.(2003).基于计数器实现的加法器自测试.微电子学,33(1),3，60-62. |
| MLA | 李兆麟,et al."基于计数器实现的加法器自测试".微电子学 33.1(2003):3，60-62. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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