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边界扫描测试电路的设计

文献类型:期刊论文

作者王孜; 刘洪民; 吴德馨
刊名微电子学
出版日期2003
卷号33期号:1页码:4,71-73,77
关键词边界扫描测试电路 设计方法 光纤通信 时分复用芯片 板级测试 Ieee标准1149.1
ISSN号1004-3365
英文摘要

讨论了边界扫描测试电路的设计方法和电路的基本结构,并针对光纤通信系统中的32:1时分复用芯片设计了边界扫描电路,给出了模拟结果。

语种中文
公开日期2010-05-25
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/812]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
王孜,刘洪民,吴德馨. 边界扫描测试电路的设计[J]. 微电子学,2003,33(1):4,71-73,77.
APA 王孜,刘洪民,&吴德馨.(2003).边界扫描测试电路的设计.微电子学,33(1),4,71-73,77.
MLA 王孜,et al."边界扫描测试电路的设计".微电子学 33.1(2003):4,71-73,77.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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