边界扫描测试电路的设计
文献类型:期刊论文
作者 | 王孜; 刘洪民; 吴德馨![]() |
刊名 | 微电子学
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出版日期 | 2003 |
卷号 | 33期号:1页码:4,71-73,77 |
关键词 | 边界扫描测试电路 设计方法 光纤通信 时分复用芯片 板级测试 Ieee标准1149.1 |
ISSN号 | 1004-3365 |
英文摘要 | 讨论了边界扫描测试电路的设计方法和电路的基本结构,并针对光纤通信系统中的32:1时分复用芯片设计了边界扫描电路,给出了模拟结果。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-25 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/812] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王孜,刘洪民,吴德馨. 边界扫描测试电路的设计[J]. 微电子学,2003,33(1):4,71-73,77. |
APA | 王孜,刘洪民,&吴德馨.(2003).边界扫描测试电路的设计.微电子学,33(1),4,71-73,77. |
MLA | 王孜,et al."边界扫描测试电路的设计".微电子学 33.1(2003):4,71-73,77. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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