0．25μm宏单元库的验证
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘伟; 张玥; 薛庆华 |
| 刊名 | 中国集成电路
 |
| 出版日期 | 2003 |
| 期号 | 44页码:5，66-69,27 |
| 关键词 | 0．25μm宏单元库 验证 组合逻辑 时序逻辑 I／o单元 Sram 性能参数 集成电路 |
| ISSN号 | 1681-5289 |
| 英文摘要 | 本文针对0．25μm宏单元库的的参数要求，设计对宏单元库中的标准单元(组合逻辑单元、时序逻辑单元)、I／O单元以及SRAM单元的功能逻辑和性能参数的验证方案。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-05-25 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/822]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘伟,张玥,薛庆华. 0．25μm宏单元库的验证[J]. 中国集成电路,2003(44):5，66-69,27. |
| APA | 刘伟,张玥,&薛庆华.(2003).0．25μm宏单元库的验证.中国集成电路(44),5，66-69,27. |
| MLA | 刘伟,et al."0．25μm宏单元库的验证".中国集成电路 .44(2003):5，66-69,27. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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