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CMOS图像传感器像素中MOSFET晶体管的栅感应噪声原理及分析

文献类型:期刊论文

作者仇玉林; 金湘亮; 陈杰
刊名半导体学报
出版日期2003
卷号24期号:9页码:6,921-926
关键词栅感应噪声 像素mosfet 改进的aps Cmos图像传感器
ISSN号0253-4177
英文摘要提出一种CMOS图像传感器像素中MOSFET晶体管的栅感应噪声原理.分析表明MOSFET工作于强反型区的栅感应噪声比工作于亚阈值区明显,但当施加在栅极电压达到3V时,随着ω/ωT比值的增加,MOSFET工作于亚阈值区的栅感应噪声比工作于强反型区明显.同时详细分析了有源像素(APS)中的RESET晶体管的栅感应噪声的影响并提出抑制栅感应噪声的电路.
语种中文
公开日期2010-05-25
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/832]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
推荐引用方式
GB/T 7714
仇玉林,金湘亮,陈杰. CMOS图像传感器像素中MOSFET晶体管的栅感应噪声原理及分析[J]. 半导体学报,2003,24(9):6,921-926.
APA 仇玉林,金湘亮,&陈杰.(2003).CMOS图像传感器像素中MOSFET晶体管的栅感应噪声原理及分析.半导体学报,24(9),6,921-926.
MLA 仇玉林,et al."CMOS图像传感器像素中MOSFET晶体管的栅感应噪声原理及分析".半导体学报 24.9(2003):6,921-926.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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