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发射极镇流电阻对In0.49Ga0.51P/GaAs HBT特性的影响

文献类型:期刊论文

作者罗明雄; 石瑞英; 孙海锋; 袁志鹏; 汪宁
刊名半导体学报
出版日期2004
卷号25期号:7页码:831-835
关键词发射极镇流电阻 In0.49ga0.51p/gaas Hbt 直流特性 高频特性 Eeacc 1350f 2560b 2560j 2560z
ISSN号0253-4177
产权排序2
英文摘要在发射极加一个镇流电阻可以解决在多个HBT并联时,常常出现电流坍塌的问题.研究了发射极镇流电阻对In0.49Ga0.51P/GaAs HBT直流及高频特性的影响,并对实验现象进行了理论分析.
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/996]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
推荐引用方式
GB/T 7714
罗明雄,石瑞英,孙海锋,等. 发射极镇流电阻对In0.49Ga0.51P/GaAs HBT特性的影响[J]. 半导体学报,2004,25(7):831-835.
APA 罗明雄,石瑞英,孙海锋,袁志鹏,&汪宁.(2004).发射极镇流电阻对In0.49Ga0.51P/GaAs HBT特性的影响.半导体学报,25(7),831-835.
MLA 罗明雄,et al."发射极镇流电阻对In0.49Ga0.51P/GaAs HBT特性的影响".半导体学报 25.7(2004):831-835.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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