深亚微米VLSI设计中的Crosstalk问题分析及消除
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陈守顺; 黄令仪; 蒋见花; 胡伟武 |
| 刊名 | 电子与封装
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| 出版日期 | 2004 |
| 卷号 | 4期号:3页码:48-50,41 |
| 关键词 | Vlsi Crosstalk 耦合电容 |
| ISSN号 | 1681-1070 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 随着特征尺寸降低到0．18μm以下，crosstalk日渐成为影响芯片设计成功与否的关键问题。本文分析了的深亚微米VLSI设计中由耦合电容造成的信号间的crosstalk问题，给出了一种峰值噪声电压的估计模型，并结合“龙芯一号”的设计，讨论了利用EDA工具解决crosstalk问题的流程。 |
| 公开日期 | 2010-05-26 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1028]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈守顺,黄令仪,蒋见花,等. 深亚微米VLSI设计中的Crosstalk问题分析及消除[J]. 电子与封装,2004,4(3):48-50,41. |
| APA | 陈守顺,黄令仪,蒋见花,&胡伟武.(2004).深亚微米VLSI设计中的Crosstalk问题分析及消除.电子与封装,4(3),48-50,41. |
| MLA | 陈守顺,et al."深亚微米VLSI设计中的Crosstalk问题分析及消除".电子与封装 4.3(2004):48-50,41. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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