RF—MBE生长的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管特性
文献类型:期刊论文
作者 | 王晓亮; 胡国新; 王军喜; 刘新宇![]() ![]() |
刊名 | 半导体学报
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出版日期 | 2004 |
卷号 | 25期号:2页码:121-125 |
关键词 | 高电子迁移率晶体管 氮化镓 场效应晶体管 Rf—mbe |
ISSN号 | 0253-4177 |
英文摘要 | 用射频分子束外延技术研制出了室温迁移率为1035cm^2/(V·s),二维电子气浓度为1.0×10^13cm^-2,77K迁移率为2653cm^2/(V·s),二维电子气浓度为9.6×10^12cm^-2的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管材料,用此材料研制的器件(栅长为1μm,栅宽为80μm,源一漏间距为4μm)的室温非本征跨导为186mS/mm,最大漏极饱和电流密度为925mA/mm,特征频率为18.8GHz。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-26 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1034] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王晓亮,胡国新,王军喜,等. RF—MBE生长的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管特性[J]. 半导体学报,2004,25(2):121-125. |
APA | 王晓亮.,胡国新.,王军喜.,刘新宇.,刘键.,...&林兰英.(2004).RF—MBE生长的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管特性.半导体学报,25(2),121-125. |
MLA | 王晓亮,et al."RF—MBE生长的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管特性".半导体学报 25.2(2004):121-125. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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