全定制版图设计中信号完整性问题的分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王强; 黄令仪 |
| 刊名 | 集成电路应用
 |
| 出版日期 | 2004 |
| 期号 | 12页码:17-19 |
| 关键词 | 信号完整性 版图设计 全定制 小尺寸 幅度 工程师 性问题 巨大 分析 失败 |
| 英文摘要 | 随着集成电路制造工艺水平的不断提高，使得0．18um及更小尺寸的设计成为可能，但是由于信号完整性问题而导致的流片失败使得整个设计的成本大幅度上升。如何避免出现信号完整性问题是设计工程师所面临的巨大挑战。本文介绍了0．18um工艺下进行全定制版图设计中所遇到的信号完整性问题，并对其进行了分析。 |
| 公开日期 | 2010-05-26 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1084]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王强,黄令仪. 全定制版图设计中信号完整性问题的分析[J]. 集成电路应用,2004(12):17-19. |
| APA | 王强,&黄令仪.(2004).全定制版图设计中信号完整性问题的分析.集成电路应用(12),17-19. |
| MLA | 王强,et al."全定制版图设计中信号完整性问题的分析".集成电路应用 .12(2004):17-19. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。