LCoS反射层的实验研究
文献类型:期刊论文
作者 | 宋玉龙; 凌志华; 刘明![]() ![]() |
刊名 | 液晶与显示
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出版日期 | 2005 |
卷号 | 20期号:6 |
关键词 | Lcos 电子束蒸发 反射率 电导率 |
ISSN号 | 1007-2780 |
英文摘要 | LCoS技术是硅基CMOS半导体集成电路技术和液晶显示技术相结合的新技术。铝膜作为LCoS的反射电极,要求有较高的反射率和电导率。采用电子束蒸发的方法,以高纯度的Al为靶材,硅片为衬底,制备了不同厚度的Al反射膜,并测量了在可见光范围内反射率曲线,分析了薄膜的致密性和电导率。实验结果表明,当Al层很薄时,膜的连续性较差,呈岛状或网状结构,膜的导电性不好;如果沉积较厚(1μm以上)则容易形成“铝丘”,即出现多晶态的Al分布,一方面使Al膜表面粗糙,降低其镜面反射率,同样也将严重影响Al膜的电学性能。选定50nm厚度Al膜作为LCoS的反射层为最佳。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-26 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1108] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 宋玉龙,凌志华,刘明,等. LCoS反射层的实验研究[J]. 液晶与显示,2005,20(6). |
APA | 宋玉龙,凌志华,刘明,&欧毅.(2005).LCoS反射层的实验研究.液晶与显示,20(6). |
MLA | 宋玉龙,et al."LCoS反射层的实验研究".液晶与显示 20.6(2005). |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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