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SiH2Cl2-NH3配比对a-SiNx:H薄膜PL峰的影响

文献类型:期刊论文

作者董立军; 王小波; 刘渝珍; 奎热西; 陈大鹏
刊名发光学报
出版日期2005
卷号26期号:4页码:5,502-506
关键词纳米硅镶嵌结构 Sinx膜 光致发光 低压化学气相沉积
ISSN号1000-7032
英文摘要

低压化学气相沉积制备的纳米硅镶嵌结构的a-SiNx:H薄膜,在3.75eV的激光激发下,室温下发射1~3个高强度的可见荧光。在相同的沉积温度下(900℃),选择不同的SiH2Cl2和NH3气体配比时,所得薄膜表现出不同的荧光属性,荧光峰的峰位和数目有着显著的变化。通过TEM、IR、XPS等分析手段对其原因进行了研究分析,认为不同配比下,生成的薄膜中缺陷态的种类和密度有所不同,这影响了其PL峰个数及其各峰的相对强弱。

语种中文
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1162]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
董立军,王小波,刘渝珍,等. SiH2Cl2-NH3配比对a-SiNx:H薄膜PL峰的影响[J]. 发光学报,2005,26(4):5,502-506.
APA 董立军,王小波,刘渝珍,奎热西,&陈大鹏.(2005).SiH2Cl2-NH3配比对a-SiNx:H薄膜PL峰的影响.发光学报,26(4),5,502-506.
MLA 董立军,et al."SiH2Cl2-NH3配比对a-SiNx:H薄膜PL峰的影响".发光学报 26.4(2005):5,502-506.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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