SiH2Cl2-NH3配比对a-SiNx:H薄膜PL峰的影响
文献类型:期刊论文
作者 | 董立军![]() ![]() |
刊名 | 发光学报
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出版日期 | 2005 |
卷号 | 26期号:4页码:5,502-506 |
关键词 | 纳米硅镶嵌结构 Sinx膜 光致发光 低压化学气相沉积 |
ISSN号 | 1000-7032 |
英文摘要 | 低压化学气相沉积制备的纳米硅镶嵌结构的a-SiNx:H薄膜,在3.75eV的激光激发下,室温下发射1~3个高强度的可见荧光。在相同的沉积温度下(900℃),选择不同的SiH2Cl2和NH3气体配比时,所得薄膜表现出不同的荧光属性,荧光峰的峰位和数目有着显著的变化。通过TEM、IR、XPS等分析手段对其原因进行了研究分析,认为不同配比下,生成的薄膜中缺陷态的种类和密度有所不同,这影响了其PL峰个数及其各峰的相对强弱。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-26 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1162] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 董立军,王小波,刘渝珍,等. SiH2Cl2-NH3配比对a-SiNx:H薄膜PL峰的影响[J]. 发光学报,2005,26(4):5,502-506. |
APA | 董立军,王小波,刘渝珍,奎热西,&陈大鹏.(2005).SiH2Cl2-NH3配比对a-SiNx:H薄膜PL峰的影响.发光学报,26(4),5,502-506. |
MLA | 董立军,et al."SiH2Cl2-NH3配比对a-SiNx:H薄膜PL峰的影响".发光学报 26.4(2005):5,502-506. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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