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SOI射频集成器件研制

文献类型:期刊论文

作者杨荣; 李俊峰; 钱鹤; 韩郑生
刊名功能材料与器件学报
出版日期2005
卷号11期号:12页码:6,177-182
关键词射频 绝缘硅 Ldmos Nmos 电感 结构 制造
ISSN号1007-4252
英文摘要

提出了包含射频有源和无源器件的sOI集成结构及工艺方案,在同一SIMOX衬底上制作了射频LDMOS、NMOS、电感、电容、电阻和变容管。核心的LDMOS、NMOS和电感器件均获得了优良的电学特性:0.25μm栅长的LDMOS截止频率和关态击穿电压分别为19.3GHz和16.1V;而0.25μm栅长的NMOS对应参数则为21.3GHz和4.8V;采用开发的局部介质增厚技术后,2nH、5nH、10nH螺旋电感的最大品质因数分别达到了6.5、5.0、4.0,相对于不采用此技术的电感(最大品质因数分别为4.3、3.2、2.3),分别改善了77%,58%,49%。

语种中文
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1196]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杨荣,李俊峰,钱鹤,等. SOI射频集成器件研制[J]. 功能材料与器件学报,2005,11(12):6,177-182.
APA 杨荣,李俊峰,钱鹤,&韩郑生.(2005).SOI射频集成器件研制.功能材料与器件学报,11(12),6,177-182.
MLA 杨荣,et al."SOI射频集成器件研制".功能材料与器件学报 11.12(2005):6,177-182.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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