高斯电子束曝光系统
文献类型:期刊论文
| 作者 | 陈大鹏 ; 杨清华 ; 刘明 ; 叶甜春
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| 刊名 | 电子工业专用设备
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| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 34期号:2页码:4,42-45 |
| 关键词 | 电子束曝光 纳米器件 掩模 邻近效应 |
| ISSN号 | 1004-4507 |
| 英文摘要 | 电子束光刻技术是纳米级加工技术的主要手段,在纳米器件加工、掩模制造、新器件新结构加工中扮演举足轻重的角色。虽然现在最先进的电子束聚焦技术可以得到几个纳米的电子束斑,但是由于邻近效应问题,依然很难使用电子束光刻技术得到接近其理论极限的纳米尺度图形,对电子束曝光系统的基本原理及其邻近效应校正技术进行了研究,并得到一些比较理想的曝光结果。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-05-26 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1242] ![]() |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈大鹏,杨清华,刘明,等. 高斯电子束曝光系统[J]. 电子工业专用设备,2005,34(2):4,42-45. |
| APA | 陈大鹏,杨清华,刘明,&叶甜春.(2005).高斯电子束曝光系统.电子工业专用设备,34(2),4,42-45. |
| MLA | 陈大鹏,et al."高斯电子束曝光系统".电子工业专用设备 34.2(2005):4,42-45. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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