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高斯电子束曝光系统

文献类型:期刊论文

作者陈大鹏; 杨清华; 刘明; 叶甜春
刊名电子工业专用设备
出版日期2005
卷号34期号:2页码:4,42-45
关键词电子束曝光 纳米器件 掩模 邻近效应
ISSN号1004-4507
英文摘要

电子束光刻技术是纳米级加工技术的主要手段,在纳米器件加工、掩模制造、新器件新结构加工中扮演举足轻重的角色。虽然现在最先进的电子束聚焦技术可以得到几个纳米的电子束斑,但是由于邻近效应问题,依然很难使用电子束光刻技术得到接近其理论极限的纳米尺度图形,对电子束曝光系统的基本原理及其邻近效应校正技术进行了研究,并得到一些比较理想的曝光结果。

语种中文
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1242]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
陈大鹏,杨清华,刘明,等. 高斯电子束曝光系统[J]. 电子工业专用设备,2005,34(2):4,42-45.
APA 陈大鹏,杨清华,刘明,&叶甜春.(2005).高斯电子束曝光系统.电子工业专用设备,34(2),4,42-45.
MLA 陈大鹏,et al."高斯电子束曝光系统".电子工业专用设备 34.2(2005):4,42-45.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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