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0.5μm高速BiCMOS的工艺研究

文献类型:期刊论文

作者海潮和; 程超; 孙宝刚
刊名微电子学与计算机
出版日期2005
卷号22期号:1页码:3,133-135
关键词Bicmos工艺 Sic技术 Si3n4/sio2复合侧墙 超簿内基区
ISSN号1000-7180
英文摘要报道了一套先进的0.5μm高速双层多晶硅自对准BiCMOS制作工艺。工艺中采用了先进的深槽隔离技术、选择性集电极注入(SIC)技术、使用自对准Si3N4/SiO2复合侧墙作为E-B结的隔离、用低能氟化硼取代硼注入基区形成超簿内基区。通过优化BiCMOS制作工艺,最终制作出了性能优良的高速BiCMOS器件。
语种中文
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1246]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
推荐引用方式
GB/T 7714
海潮和,程超,孙宝刚. 0.5μm高速BiCMOS的工艺研究[J]. 微电子学与计算机,2005,22(1):3,133-135.
APA 海潮和,程超,&孙宝刚.(2005).0.5μm高速BiCMOS的工艺研究.微电子学与计算机,22(1),3,133-135.
MLA 海潮和,et al."0.5μm高速BiCMOS的工艺研究".微电子学与计算机 22.1(2005):3,133-135.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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