基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析
文献类型：期刊论文
| 作者 | 潘曙娟; 钟杰 |
| 刊名 | 半导体学报
 |
| 出版日期 | 2006 |
| 卷号 | 27期号:增刊页码:354-357 |
| 关键词 | 通用测试仪 直流/交流参数测试 功能测试 扫描 |
| ISSN号 | 0253-4177 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 介绍了基于ATE的集成电路的测试原理和方法,包括电气特性测试原理和功能测试原理,详细地介绍了通用的测试方法以及一些当今流行的比较特殊的测试方法,并以一个功能较为全面而典型的具体电路为例进行了常见的故障分析. |
| 公开日期 | 2010-05-26 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1312]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 潘曙娟,钟杰. 基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析[J]. 半导体学报,2006,27(增刊):354-357. |
| APA | 潘曙娟,&钟杰.(2006).基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析.半导体学报,27(增刊),354-357. |
| MLA | 潘曙娟,et al."基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析".半导体学报 27.增刊(2006):354-357. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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