单电子晶体管的数值模拟及特性分析
文献类型:期刊论文
作者 | 叶甜春![]() ![]() ![]() ![]() |
刊名 | 固体电子学研究与进展
![]() |
出版日期 | 2006 |
卷号 | 26期号:3页码:300-303,363 |
关键词 | 单电子晶体管 正统理论 主方程方法 |
ISSN号 | 1000-3819 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 在正统单电子理论的基础上,使用主方程方法,对金属隧道结组成的单电子晶体管进行了I-Vg和I-Va特性曲线的数值模拟。在单电子晶体管中,电子能否隧穿通过势垒,主要是由电子隧穿引起的系统自由能的变化而决定的。文中从自由能量出发对器件特性进行分析,从而得到电容、电阻以及电压等参数对库仑台阶及电导振荡的影响。当两个结电阻不同时,能够看到明显的库仑台阶现象。具有较大结电阻的隧穿结,电容也较大时可以完善库仑台阶,优化单电子晶体管的曲线。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-26 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1352] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 叶甜春,张立辉,李志刚,等. 单电子晶体管的数值模拟及特性分析[J]. 固体电子学研究与进展,2006,26(3):300-303,363. |
APA | 叶甜春,张立辉,李志刚,刘明,&谢常青.(2006).单电子晶体管的数值模拟及特性分析.固体电子学研究与进展,26(3),300-303,363. |
MLA | 叶甜春,et al."单电子晶体管的数值模拟及特性分析".固体电子学研究与进展 26.3(2006):300-303,363. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。