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截止频率53GHz的高性能0.18μm射频nMOSFET

文献类型:期刊论文

作者杨荣; 李俊峰; 徐秋霞; 钱鹤; 韩郑生; 海潮和
刊名半导体学报
出版日期2006
卷号27期号:8页码:1343-1346
关键词结构 工艺 射频 Nmosfet
ISSN号0253-4177
产权排序1
英文摘要

阐述了0.18μm射频nMOSFET的制造和性能.器件采用氮化栅氧化层/多晶栅结构、轻掺杂源漏浅延伸结、倒退的沟道掺杂分布和叉指栅结构,除0.18μm的栅线条采用电子束直写技术外,其他结构均通过常规的半导体制造设备实现,按照简洁的工艺流程制备了器件,获得了优良的直流和射频性能:阈值电压0.52V,亚阈值斜率80mV/dec,漏致势垒降低因子69mV/V,截止电流0.5nA/μm,饱和驱动电流458μA/μm,饱和跨导212μS/μm(6nm氧化层,3V驱动电压)及截止频率53GHz.

语种中文
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1374]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
杨荣,李俊峰,徐秋霞,等. 截止频率53GHz的高性能0.18μm射频nMOSFET[J]. 半导体学报,2006,27(8):1343-1346.
APA 杨荣,李俊峰,徐秋霞,钱鹤,韩郑生,&海潮和.(2006).截止频率53GHz的高性能0.18μm射频nMOSFET.半导体学报,27(8),1343-1346.
MLA 杨荣,et al."截止频率53GHz的高性能0.18μm射频nMOSFET".半导体学报 27.8(2006):1343-1346.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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