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MBE生长的InP DHBT的性能

文献类型:期刊论文

作者于进勇; 刘新宇; 王润梅; 刘训春; 苏树兵; 徐安怀; 齐鸣
刊名半导体学报
出版日期2006
卷号27期号:5页码:792-795
关键词Mbe Be掺杂ingaas基区 磷化铟 双异质结双极晶体管
ISSN号0253-4177
产权排序1
英文摘要

报道了一种自对准InP/InGaAs双异质结双极晶体管的器件性能,成功制作了U型发射极尺寸为2μm×12μm的器件,其峰值共射直流增益超过300,残余电压约为0.16V,膝点电压仅为0.6V,而击穿电压约为6V,器件的截至频率达到80GHz,最大震荡频率为40GHz,这些特性使此类器件更适合于低压、低功耗及高频方面的应用。

语种中文
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1400]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
于进勇,刘新宇,王润梅,等. MBE生长的InP DHBT的性能[J]. 半导体学报,2006,27(5):792-795.
APA 于进勇.,刘新宇.,王润梅.,刘训春.,苏树兵.,...&齐鸣.(2006).MBE生长的InP DHBT的性能.半导体学报,27(5),792-795.
MLA 于进勇,et al."MBE生长的InP DHBT的性能".半导体学报 27.5(2006):792-795.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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