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C^+注入a-SiNx:H的原子化学键合的研究

文献类型:期刊论文

作者陈大鹏; 陈超; 刘渝珍; 董立军; 王小波
刊名半 导 体 学 报
出版日期2007
卷号38期号:3页码:5,415_419
关键词C注入sicn
ISSN号0253-4177
产权排序1
英文摘要

常温下对低压化学气相沉积制备的纳米硅镶嵌结构的a - S i N :H薄膜进行c注入,能量为 3 0 k e V,剂量为 2×1 0 cm~.对c 注入 的 S i N 薄膜在 8 0 0 ~ C的温度下 ,进行 2 h的常规炉退火处 理.通过XPS,AES的测量得到 ,经800 ~ C高温退火处理后的薄膜形成了部分 SiCN 结构 .用喇曼、XPS等分析 手段对薄 膜结构及 成分进行了测量与分析,得到不同退火温度对离子 注入形成 SiCN薄膜结构与成分 的影响,认为高温退火后薄膜中硅含量与SiCN 薄膜 的形成有重要的关系 .

语种中文
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1550]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
陈大鹏,陈超,刘渝珍,等. C^+注入a-SiNx:H的原子化学键合的研究[J]. 半 导 体 学 报,2007,38(3):5,415_419.
APA 陈大鹏,陈超,刘渝珍,董立军,&王小波.(2007).C^+注入a-SiNx:H的原子化学键合的研究.半 导 体 学 报,38(3),5,415_419.
MLA 陈大鹏,et al."C^+注入a-SiNx:H的原子化学键合的研究".半 导 体 学 报 38.3(2007):5,415_419.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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