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总剂量辐照加固的 PDSOI CMOS64k静态随机存储器

文献类型:期刊论文

作者周小茵; 郭天雷; 赵发展; 刘刚; 李多力; 李晶; 韩郑生; 海潮和; 赵立新
刊名半导体学报
出版日期2007
卷号28期号:8页码:3,1184_1186
关键词部分耗尽 Soi
ISSN号0253—4177
产权排序1
英文摘要

在 国内首次使得 1.2 m部分 耗尽 S OI64k静态 随机存储 器的抗总剂量 能力 达到了 1×1 0 。r a d( S i ) ,其使用了SIMOX 晶圆.在一5 5~1 2 5 ~ C范围内,该存储器的数据读取时间几乎不变.在经过剂量为 1×1 0 。r a d( S i ) 的总剂量辐照后,该存储器的数据读取时间也几乎不变,静态功耗仅从辐 照前的0.65A变化为辐照后的0.8 mA,远远低于规定的10mA指标;动态功耗仅从辐照前的33 mA变化为辐照后的3 8.1 mA,远远低于规定的100mA指标

语种中文
公开日期2010-05-26
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1552]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
周小茵,郭天雷,赵发展,等. 总剂量辐照加固的 PDSOI CMOS64k静态随机存储器[J]. 半导体学报,2007,28(8):3,1184_1186.
APA 周小茵.,郭天雷.,赵发展.,刘刚.,李多力.,...&赵立新.(2007).总剂量辐照加固的 PDSOI CMOS64k静态随机存储器.半导体学报,28(8),3,1184_1186.
MLA 周小茵,et al."总剂量辐照加固的 PDSOI CMOS64k静态随机存储器".半导体学报 28.8(2007):3,1184_1186.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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