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高性能验证平台设计与搭建

文献类型:期刊论文

作者宋秀兰; 吴晓波
刊名电子器件
出版日期2008
卷号31期号:6页码:3,1819-1821
关键词验证 Ip Rvm Systemverilog Openvera
ISSN号1005-9490
英文摘要随着集成电路设计的复杂度越来越高,系统验证的难度也在不断地提高。为了能更有效地完成验证工作,需要采用先进的验证方法来构建高性能验证平台。本文介绍的项目中,采用了多种先进验证技术,使用RVM分层结构,混合验证语言,集成多种验证IP,构建了一个存储系统的高效验证平台,探索了复杂系统验证平台设计与搭建之路。
语种中文
公开日期2010-05-27
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1762]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
推荐引用方式
GB/T 7714
宋秀兰,吴晓波. 高性能验证平台设计与搭建[J]. 电子器件,2008,31(6):3,1819-1821.
APA 宋秀兰,&吴晓波.(2008).高性能验证平台设计与搭建.电子器件,31(6),3,1819-1821.
MLA 宋秀兰,et al."高性能验证平台设计与搭建".电子器件 31.6(2008):3,1819-1821.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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