基于Agilent VEE实现混频器的自动化测试
文献类型:期刊论文
作者 | 欧阳思华![]() ![]() ![]() ![]() |
刊名 | 电子测量技术
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出版日期 | 2008 |
卷号 | 31期号:11页码:4,108-111 |
关键词 | 混频器 自动化 噪声系数 Agilent Vee |
ISSN号 | 1002-7300 |
英文摘要 | 混频器是射频前端电路的一个重要模块,转化增益和噪声是影响混频器性能的重要因素。然而在噪声系数的测量过程中,涉及到多台仪器的协同工作,以及数据的采集及存储,手动的面板操作,这些琐碎的工作都制约了测试速度。本文正是在改进传统测试的基础上,介绍一种采用Agilent VEE语言编写测试系统,快捷、便利测试混频器方法。这套系统具有远程控制、自动化测量的优点,解决了测量结果只能使用软盘保存的问题。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-27 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1796] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 欧阳思华,武锦,李艳奎,等. 基于Agilent VEE实现混频器的自动化测试[J]. 电子测量技术,2008,31(11):4,108-111. |
APA | 欧阳思华,武锦,李艳奎,&刘新宇.(2008).基于Agilent VEE实现混频器的自动化测试.电子测量技术,31(11),4,108-111. |
MLA | 欧阳思华,et al."基于Agilent VEE实现混频器的自动化测试".电子测量技术 31.11(2008):4,108-111. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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