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基于Agilent VEE实现混频器的自动化测试

文献类型:期刊论文

作者欧阳思华; 武锦; 李艳奎; 刘新宇
刊名电子测量技术
出版日期2008
卷号31期号:11页码:4,108-111
关键词混频器 自动化 噪声系数 Agilent Vee
ISSN号1002-7300
英文摘要

混频器是射频前端电路的一个重要模块,转化增益和噪声是影响混频器性能的重要因素。然而在噪声系数的测量过程中,涉及到多台仪器的协同工作,以及数据的采集及存储,手动的面板操作,这些琐碎的工作都制约了测试速度。本文正是在改进传统测试的基础上,介绍一种采用Agilent VEE语言编写测试系统,快捷、便利测试混频器方法。这套系统具有远程控制、自动化测量的优点,解决了测量结果只能使用软盘保存的问题。

语种中文
公开日期2010-05-27
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1796]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
欧阳思华,武锦,李艳奎,等. 基于Agilent VEE实现混频器的自动化测试[J]. 电子测量技术,2008,31(11):4,108-111.
APA 欧阳思华,武锦,李艳奎,&刘新宇.(2008).基于Agilent VEE实现混频器的自动化测试.电子测量技术,31(11),4,108-111.
MLA 欧阳思华,et al."基于Agilent VEE实现混频器的自动化测试".电子测量技术 31.11(2008):4,108-111.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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