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一种PDSOI 8位MCU的瞬态实验与分析

文献类型:期刊论文

作者赵发展; 郭天雷; 蔡小五; 刘刚; 海潮和; 杨善潮; 李瑞宾; 林东生
刊名核电子学与探测技术
出版日期2008
卷号28期号:4页码:4,813-816
关键词瞬态 Soi Mcu 辐照
ISSN号0258-0934
英文摘要针对中国科学院微电子研究所的PDSOI 8位MCU J80C51RH设计了两套瞬态实验方法,开发了相配套的软件和硬件,并在西北核技术研究所的强光一号上进行了实验,成功地获得了所需要的数据,该MCU在剂量率为1E11 rad(Si)/s的瞬态辐照环境下工作正常。同时也证明了两套测试系统的可靠性。
语种中文
公开日期2010-05-27
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1816]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
推荐引用方式
GB/T 7714
赵发展,郭天雷,蔡小五,等. 一种PDSOI 8位MCU的瞬态实验与分析[J]. 核电子学与探测技术,2008,28(4):4,813-816.
APA 赵发展.,郭天雷.,蔡小五.,刘刚.,海潮和.,...&林东生.(2008).一种PDSOI 8位MCU的瞬态实验与分析.核电子学与探测技术,28(4),4,813-816.
MLA 赵发展,et al."一种PDSOI 8位MCU的瞬态实验与分析".核电子学与探测技术 28.4(2008):4,813-816.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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