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一种改进了碰撞电离的超高速InP基SHBT SDD模型

文献类型:期刊论文

作者葛霁; 金智; 刘新宇; 程伟; 王显泰; 陈高鹏; 吴德馨
刊名半导体学报
出版日期2008
卷号29期号:9页码:5,1799-1803
关键词碰撞电离 温度依赖 超高速inp基shbt Sdd模型
ISSN号0253-4177
英文摘要

从物理机制上分析了超高速InP/InGaAs SHBT碰撞电离与温度的关系,通过加入表示温度的参数和简化电场计算,得到一种改进的碰撞电离模型.同时针对自有工艺和器件特性,采用SDD(symbolically defined device)技术建立了一个包括碰撞电离和自热效应的InP/InGaAs SHBT的直流模型.模型内嵌入HP-ADS中仿真并与测试结果进行比较,准确地拟合了InP/InGaAs SHBT的器件特性.

语种中文
公开日期2010-05-27
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/1868]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
葛霁,金智,刘新宇,等. 一种改进了碰撞电离的超高速InP基SHBT SDD模型[J]. 半导体学报,2008,29(9):5,1799-1803.
APA 葛霁.,金智.,刘新宇.,程伟.,王显泰.,...&吴德馨.(2008).一种改进了碰撞电离的超高速InP基SHBT SDD模型.半导体学报,29(9),5,1799-1803.
MLA 葛霁,et al."一种改进了碰撞电离的超高速InP基SHBT SDD模型".半导体学报 29.9(2008):5,1799-1803.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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