基于Agilent VEE的HEMT器件在片虚拟仪器测试系统
文献类型：期刊论文
| 作者 | 欧阳思华 ; 武锦; 李艳奎; 刘新宇
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| 刊名 | 电子测量技术
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| 出版日期 | 2008 |
| 卷号 | 31期号:6页码:4，111-113,139 |
| 关键词 | Agilent Vee Hemt在片测试 自动化测试系统 |
| ISSN号 | 1002-7300 |
| 英文摘要 | A1GaN／GaN基高电子迁移率晶体管（HEMT）在高频、高温和大功率领域具有广泛的应用前景。然而，HEMT器件的在片评价测量将会涉及到多台测试仪表，在协调仪器间共同工作带来巨大的挑战的同时，而且由于接口的不统一，使得数据的采集和存储也极为不便，显然，手动测试已不能满足目前的需要。本文正是在改进传统测试的基础上，通过搭建基于LAN的虚拟仪器构架，介绍一种采用Agilent VEE语言来实现HEMT器件在片的自动化测试系统的方法。这套系统很好的解决了测试数据的快捷传输，实现了测试过程的自动化，加快了测试速度。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-05-27 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/1996]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 欧阳思华,武锦,李艳奎,等. 基于Agilent VEE的HEMT器件在片虚拟仪器测试系统[J]. 电子测量技术,2008,31(6):4，111-113,139. |
| APA | 欧阳思华,武锦,李艳奎,&刘新宇.(2008).基于Agilent VEE的HEMT器件在片虚拟仪器测试系统.电子测量技术,31(6),4，111-113,139. |
| MLA | 欧阳思华,et al."基于Agilent VEE的HEMT器件在片虚拟仪器测试系统".电子测量技术 31.6(2008):4，111-113,139. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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