锁相环电荷泵稳定性研究
文献类型:期刊论文
作者 | 吴永俊; 叶青 |
刊名 | 半导体技术
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出版日期 | 2008 |
卷号 | 33期号:6页码:4,510-513 |
关键词 | 电荷泵 电流失配 稳定性补偿 |
ISSN号 | 1003-353X |
英文摘要 | 建立了锁相环中电荷泵模型,对比无补偿和Cr补偿下电路的稳定裕度,提出了一种新的改善电荷泵稳定性的RcCc补偿方法,应用这种方法设计了一款高摆幅、低电流失配的电荷泵。电路采用HJTC0.18μm CMOS工艺实现,应用于3.5 GHz的锁相环频率综合器,电源电压1.8 V,输出电流100μA,输出电压0.4-1.4 V时,后仿的电流失配在1%以下,相位裕度达74°,版图面积130μm×80μm。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2010-05-27 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/2026] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴永俊,叶青. 锁相环电荷泵稳定性研究[J]. 半导体技术,2008,33(6):4,510-513. |
APA | 吴永俊,&叶青.(2008).锁相环电荷泵稳定性研究.半导体技术,33(6),4,510-513. |
MLA | 吴永俊,et al."锁相环电荷泵稳定性研究".半导体技术 33.6(2008):4,510-513. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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