高速CMOS闪烁型模数转换器中的误差源研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 莫太山; 叶甜春 ; 马成炎
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| 刊名 | 电子器件
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| 出版日期 | 2008 |
| 卷号 | 31期号:2页码:5，441-445 |
| 关键词 | Cmos 闪烁型模数转换器 误差源 电路解决技术 |
| ISSN号 | 1005-9490 |
| 英文摘要 | 对高速CMOS闪烁型模数转换器中的六种误差源进行了研究。每个误差源会潜在的限制模数转换器的线性度和信噪比。这些误差源包括基准电压的非理想因素、前置放大器引入的输入有关的时间延迟、比较器的回程噪声、时钟抖动与分布特性、温度计码中的火花码、比较器的亚稳态。在每种误差源研究的基础上，给出了相应的电路解决技术，使得吉赫频率范围中等分辨率的CMOS闪烁型ADC成为现实。 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-05-27 |
| 源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/2068]  |
| 专题 | 微电子研究所_回溯数据库（1992-2008年） |
| 作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 莫太山,叶甜春,马成炎. 高速CMOS闪烁型模数转换器中的误差源研究[J]. 电子器件,2008,31(2):5，441-445. |
| APA | 莫太山,叶甜春,&马成炎.(2008).高速CMOS闪烁型模数转换器中的误差源研究.电子器件,31(2),5，441-445. |
| MLA | 莫太山,et al."高速CMOS闪烁型模数转换器中的误差源研究".电子器件 31.2(2008):5，441-445. |
入库方式： OAI收割
来源：微电子研究所
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