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一种交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法

文献类型:专利

作者刘明; 王从舜; 涂德钰
发表日期2008-03-05
专利号CN200510011990.X
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

一种交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法,其工艺步骤如下: 1.在基片表面上淀积氮化硅薄膜;2.在氮化硅薄膜表面上旋涂抗蚀剂, 光刻得到电极图形;3.利用抗蚀剂掩蔽刻蚀氮化硅薄膜;4.蒸发、剥离 金属得到交叉线下电极;5.生长牺牲层材料;6.化学机械抛光牺牲层 材料至氮化硅薄膜表面;7.旋涂抗蚀剂,光刻得到上电极图形;8.蒸 发、剥离金属得到上电极;9.牺牲层释放;10.液相法生长有机分子材 料;11.刻蚀,完成交叉线有机分子器件的制备。

公开日期2006-12-27
申请日期2005-06-23
语种中文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/7304]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
刘明,王从舜,涂德钰. 一种交叉线阵列结构有机分子器件的制备方法. CN200510011990.X. 2008-03-05.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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