绝缘体硅射频集成电路的集成结构及制作方法
文献类型:专利
作者 | 韩郑生![]() ![]() ![]() ![]() |
专利号 | CN200410045979.0 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 一种用于绝缘体硅射频集成电路的集成结构,其中包括:一绝缘体 硅衬底,包括单晶硅层、隔离氧化层和硅薄层;场氧化层采用局域场氧 化隔离技术形成在硅薄层里与隔离氧化层相连,以阻断器件漏电;栅氧 化层是在硅薄层表面氧化形成;多晶硅层是在栅氧化层上淀积形成的; 氮化硅层形成在多晶硅层的周围;二硅化钛薄层以点状分布在硅薄层上; 第一层铝薄膜形成在二硅化钛薄层上;一二氧化硅层形成在场氧化层、 多晶硅层、氮化硅层、二硅化钛薄层和第一层铝薄膜上;部分第一层铝 薄膜镶嵌在二氧化硅层中;第二层铝薄膜与第一层铝薄膜局部相连,并 形成于二氧化硅层上。 |
公开日期 | 2005-12-07 |
申请日期 | 2004-05-27 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/7380] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 韩郑生,周小茵,赵立新,等. 绝缘体硅射频集成电路的集成结构及制作方法. CN200410045979.0. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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