一种制备交叉分子电子器件的方法
文献类型:专利
作者 | 刘新华; 涂德钰; 刘明![]() ![]() ![]() |
发表日期 | 2009-11-04 |
专利号 | CN200710176280.1 |
著作权人 | 中国科学院微电子研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 发明专利 |
英文摘要 | 本发明涉及微电子学与分子电子学中的微细加工技术领域,公开了一 种制备交叉分子电子器件的方法,包括:在基片上淀积一层绝缘介质;在 该绝缘介质层上旋涂抗蚀剂,在该抗蚀剂上光刻出交叉结构图形;利用抗 蚀剂作为掩蔽刻蚀该绝缘介质层,将交叉结构图形转移到绝缘介质层上, 然后去除多余的抗蚀剂;沿着交叉结构中线条的一个方向,按一定角度蒸 发金属,形成下电极;在下电极上淀积双稳态分子薄膜;沿着交叉结构中 线条的另一个方向,按一定角度蒸发金属,形成上电极。利用本发明,有 效地改避免金属剥离工艺对有机分子造成的损伤,同时具有工艺流程简单 等优点。 |
公开日期 | 2009-04-29 |
申请日期 | 2007-10-24 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://10.10.10.126/handle/311049/7856] ![]() |
专题 | 微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年) |
作者单位 | 中国科学院微电子研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘新华,涂德钰,刘明,等. 一种制备交叉分子电子器件的方法. CN200710176280.1. 2009-11-04. |
入库方式: OAI收割
来源:微电子研究所
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