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一种制备交叉分子电子器件的方法

文献类型:专利

作者刘新华; 涂德钰; 刘明; 谢常青; 商立伟
发表日期2009-11-04
专利号CN200710176280.1
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明涉及微电子学与分子电子学中的微细加工技术领域,公开了一 种制备交叉分子电子器件的方法,包括:在基片上淀积一层绝缘介质;在 该绝缘介质层上旋涂抗蚀剂,在该抗蚀剂上光刻出交叉结构图形;利用抗 蚀剂作为掩蔽刻蚀该绝缘介质层,将交叉结构图形转移到绝缘介质层上, 然后去除多余的抗蚀剂;沿着交叉结构中线条的一个方向,按一定角度蒸 发金属,形成下电极;在下电极上淀积双稳态分子薄膜;沿着交叉结构中 线条的另一个方向,按一定角度蒸发金属,形成上电极。利用本发明,有 效地改避免金属剥离工艺对有机分子造成的损伤,同时具有工艺流程简单 等优点。

公开日期2009-04-29
申请日期2007-10-24
语种中文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/7856]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
刘新华,涂德钰,刘明,等. 一种制备交叉分子电子器件的方法. CN200710176280.1. 2009-11-04.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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