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高密度硅纳米晶薄膜的制备方法

文献类型:专利

作者贾锐; 李维龙; 李昊峰; 路程; 田继红; 刘明; 朱晨昕; 陈晨
发表日期2009-12-30
专利号CN200810224677.8
著作权人中国科学院微电子研究所
国家中国
文献子类发明专利
英文摘要

本发明是关于一种高密度硅纳米晶薄膜的制备方法,包括在硅衬底上 形成二氧化硅层;将一氧化硅作为靶材通过电子束蒸发法沉积至上述的二 氧化硅层上,形成混合物薄膜层;向上述的混合物薄膜层中注入硅离子;以 及将混合物薄膜层进行退火,形成高密度的硅纳米晶薄层。本发明通过电 子束蒸发一氧化硅靶材配合离子注入法制备高密度硅纳米晶薄膜,具有工 艺步骤简单、用途多、能与传统Si基CMOS工艺兼容的优点。采用本发明 提供的方法制备的硅纳米晶面密度高达:1012cm-1量级,颗粒直径在5~8 nm范围内。主要应用于硅基第三代太阳能电池芯片关键组件的制备、硅单 电子器件、单电子存储器、硅纳米晶浮栅存储器的制备等方面,适合大规 模生产的要求。

公开日期2009-04-22
申请日期2008-10-23
语种中文
源URL[http://10.10.10.126/handle/311049/7874]  
专题微电子研究所_回溯数据库(1992-2008年)
作者单位中国科学院微电子研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
贾锐,李维龙,李昊峰,等. 高密度硅纳米晶薄膜的制备方法. CN200810224677.8. 2009-12-30.

入库方式: OAI收割

来源:微电子研究所

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